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?封裝后的BGA存在的缺陷用如何檢測(cè)？

發(fā)布時(shí)間：2020-08-17 08:57:36

無(wú)法有效地保證其生產(chǎn)的電子元件的產(chǎn)品合格率，特別是對(duì)于包裝公司（如BGA）而言，如果包裝BGA，如果僅依賴于以后的測(cè)試來(lái)試圖提高產(chǎn)品質(zhì)量，那么這種方法無(wú)疑會(huì)在測(cè)試成本上顯得更高。

大功率放大鏡檢測(cè)BGA的缺點(diǎn)

那么，如何在工廠檢查和包裝后有效地檢查BGA缺陷呢？目前，國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上的檢測(cè)方法主要有以下幾種：首先，使用大功率放大鏡檢測(cè)BGA的缺陷。該檢測(cè)的操作實(shí)際上非常簡(jiǎn)單。焊點(diǎn)的缺陷由放大鏡檢測(cè)。但是，請(qǐng)注意，這種檢測(cè)的缺點(diǎn)是無(wú)法有效地檢測(cè)出焊點(diǎn)的內(nèi)部以及被堵塞的焊點(diǎn)。

破壞性采樣的缺點(diǎn)

第二是采取相應(yīng)的破壞性隨機(jī)檢查。這種檢查方法是對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行隨機(jī)檢查，然后進(jìn)行相關(guān)檢查。此測(cè)試的缺點(diǎn)是需要拆卸產(chǎn)品。在許多情況下，它將對(duì)產(chǎn)品造成不可逆轉(zhuǎn)的損壞。

X-RAY測(cè)試成為市場(chǎng)主流測(cè)試的原因

**要說(shuō)的是當(dāng)今主流的檢測(cè)方法，那就是通過(guò)X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備來(lái)進(jìn)行相應(yīng)的測(cè)試。如今，國(guó)內(nèi)市場(chǎng)上的無(wú)損檢測(cè)包括X射線檢測(cè)，超聲檢測(cè)和磁粉檢測(cè)。在這些類型的測(cè)試中，X-RAY測(cè)試是用戶中****的測(cè)試。 X射線測(cè)試主要通過(guò)X射線穿透原理可以準(zhǔn)確地檢測(cè)產(chǎn)品的內(nèi)部缺陷。這種檢測(cè)方法不會(huì)對(duì)產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成任何損壞，并且檢測(cè)精度很高，甚至產(chǎn)品的缺陷位置和大小都可以一目了然。

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