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xray檢測
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X-ray在BGA焊接的“無損檢測”
發(fā)布時間:2020-10-30 08:48:33

隨著IC芯片的特征尺寸要求越來越小,并且復雜度越來越高,各大生產(chǎn)公司開始尋求新的高密度封裝技術(shù),因此出現(xiàn)BGA封裝技術(shù)。盡管BGA器件的性能和組裝性能優(yōu)于傳統(tǒng)組件,但BGA封裝技術(shù)的發(fā)展仍然受到BGA焊點質(zhì)量和可靠性的限制。鑒于不同產(chǎn)品的焊點缺陷不同,有必要選擇合適的檢測方法。


X射線檢查焊點質(zhì)量:X射線檢查是一種非破壞性的物理透視方法,即在不破壞芯片的情況下,使用X射線透視組件以檢測組件的內(nèi)部包裝,例如氣泡,裂紋和異常粘合線。


2DX-ray:對于無法從視覺上檢測到樣品的位置,將記錄X射線穿透不同密度材料后的光強度變化,由此產(chǎn)生的對比效果可以形成圖像以顯示待測對象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。當測試對象被破壞時,觀察測試對象內(nèi)部的問題區(qū)域,通過X射線掃描快速有效地觀察,識別空焊和虛焊等BGA焊接缺陷,分析BGA和電路板的內(nèi)部位移以及短路缺陷。但是,2DX射線具有一定的局限性。它只能觀察二維圖像。原理是在二維顯示器上顯示三維樣本以進行成像。對于結(jié)構(gòu)復雜的產(chǎn)品,不同深度方向上的信息會重疊在一起,很容易混淆。例如,當在同一位置的不同側(cè)面上有組件時,由焊料形成的陰影將重疊并影響測試結(jié)果的準確性。因此,具有復雜結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品通常用于初步和快速確定。


x-ray焊點檢測


3DX射線(CT掃描):3DX射線是2D X射線局限性的良好解決方案。它可以呈現(xiàn)具有高密度分辨率和高空間分辨率的三維圖像。它還可以實現(xiàn)模擬的斷層圖像??梢酝昝澜鉀QBGA焊點缺陷。清楚準確地觀察BGA焊點的焊接質(zhì)量和結(jié)構(gòu)缺陷,并顯示焊接內(nèi)部缺陷的形狀,位置和大小。


在上述的非破壞性檢測方法對焊點缺陷進行檢測的過程中,3DX射線(CT掃描)是目前**進的無損檢測技術(shù)能完美解決焊點缺陷問題,但測試費用較昂貴。


X-ray焊點檢測設(shè)備通常可用于檢測:

IC封裝:用于芯片尺寸測量,芯片位置,空隙,引線框,引線鍵合,開路,短路,異常連接,陶瓷電容器結(jié)構(gòu)檢查;

PCB:用于檢測PCB內(nèi)層的痕跡,焊點孔,成型不良,橋接,焊料不足/過多,吃錫的組件所占面積的比例以及缺少的組件;

其他應用:機械結(jié)構(gòu),電池結(jié)構(gòu)檢查等。



日聯(lián)科技一直致力于X射線技術(shù)的研究和X射線智能檢測設(shè)備的制造,其中明星型號AX8200具有操作簡便,軟件人性化,系統(tǒng)可用性高等特點,且順應市場需求目前已全面升級為AX8200MAX,適用于BGA,CSP,倒裝芯片檢查,半導體,封裝組件,電子連接器模塊檢查,大型電路板上的印刷電路板焊點檢查,陶瓷產(chǎn)品,航空零部件,太陽能電池板電池行業(yè)等特殊行業(yè)的檢測。


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